Objectifs

Acquérir la connaissance méthodologique et pratique de la Maîtrise Statistique des Processus (MSP/SPC) et des différents types de cartes de contrôle

Programme de la formation

- Introduction générale- Préalable à la Maîtrise Statistique des Processus (MSP/SPC) : la capabilité de la mesure

• Notions de métrologie


• Sources de variation - Causes communes (aléatoires), causes spéciales (assignables)


• Introduction aux études d'incertitudes (gage R&R)

• Introduction au Six Sigma


• Indice de capabilité Cp et Cpk


• Calculs dans le cas de paramètres ne suivant pas la loi Normale

• Les principes de la carte de contrôle


• Construction d'une carte de contrôle : mode d'échantillonnage et calcul des limites de contrôle à partir d'une période de référence


• Différences entre limites de contrôle et limites de spécification


• Le taux de fausses alarmes dans le cas gaussien (loi Normale)


• Les règles de Western Electric pour déterminer si un procédé est hors-contrôle


• Les différents types de cartes de contrôle


• Cartes simples de type individuelles


• Cartes de Shewhart (moyenne / dispersion) pour la détection de déréglages rapides : Xbar/R, Xbar/S


• Cartes CUSUM et de type EWMA (moyennes mobiles) pour la détection de déréglages lents


• Cartes aux attributs de type cartes P ou cartes C


• Cartes multivariées (T2 de Hotelling)


• Cartes de contrôle sous hypothèses non-standards


• Différentes sources de variation


• Limites de contrôle dans le cas de paramètres non gaussiens


• Données auto-corrélées


• Réaction en cas de hors-contrôle


• La Maîtrise Statistique des Processus dans l'entreprise

Validation et sanction

Attestation de formation

Type de formation

Non certifiante

Sortie

Sans niveau spécifique