Objectifs, programme, validation de la formation
Acquérir la connaissance méthodologique et pratique de la Maîtrise Statistique des Processus (MSP/SPC) et des différents types de cartes de contrôle
- Introduction générale- Préalable à la Maîtrise Statistique des Processus (MSP/SPC) : la capabilité de la mesure
- Notions de métrologie
- Sources de variation - Causes communes (aléatoires), causes spéciales (assignables)
- Introduction aux études d'incertitudes (gage R&R)
- La capabilité du procédé
- Introduction au Six Sigma
- Indice de capabilité Cp et Cpk
- Calculs dans le cas de paramètres ne suivant pas la loi Normale
- Les cartes de contrôle
- Les principes de la carte de contrôle
- Construction d'une carte de contrôle : mode d'échantillonnage et calcul des limites de contrôle à partir d'une période de référence
- Différences entre limites de contrôle et limites de spécification
- Le taux de fausses alarmes dans le cas gaussien (loi Normale)
- Les règles de Western Electric pour déterminer si un procédé est hors-contrôle
- Les différents types de cartes de contrôle
- Cartes simples de type individuelles
- Cartes de Shewhart (moyenne / dispersion) pour la détection de déréglages rapides : Xbar/R, Xbar/S
- Cartes CUSUM et de type EWMA (moyennes mobiles) pour la détection de déréglages lents
- Cartes aux attributs de type cartes P ou cartes C
- Cartes multivariées (T2 de Hotelling)
- Cartes de contrôle sous hypothèses non-standards
- Différentes sources de variation
- Limites de contrôle dans le cas de paramètres non gaussiens
- Données auto-corrélées
- Réaction en cas de hors-contrôle
- La Maîtrise Statistique des Processus dans l'entreprise
Attestation de formation
Non certificiante
Sans niveau spécifique
