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Analyse des systèmes de mesure MSA

Date de mise à jour :
Identifiant Offre Info : 19_1701309573
Organisme responsable : Data Value (ouvre dans un nouvel onglet)

Nouvelle recherche

Présentation de la formation

Objectifs

Objectifs     Connaître les principales méthodes statistiques pour analyser un système de mesure. Compétences visées     Appréhender la maîtrise des systèmes de mesure et leur intégration dans la maîtrise statistique des processus     Connaître le vocabulaire de la métrologie     S'initier à un logiciel de statistique, par défaut R     Connaître les principes de l'inférence statistique et des systèmes de mesure : intervalles de confiance, tests de comparaison et tests appariés…

Objectifs


    Connaître les principales méthodes statistiques pour analyser un système de mesure.



Compétences visées

       
  • Appréhender la maîtrise des systèmes de mesure et leur intégration dans la maîtrise statistique des processus

  •    
  • Connaître le vocabulaire de la métrologie

  •    
  • S'initier à un logiciel de statistique, par défaut R

  •    
  • Connaître les principes de l'inférence statistique et des systèmes de mesure : intervalles de confiance, tests de comparaison et tests appariés

  •    
  • Maîtriser les techniques d'analyse des systèmes de mesure : échantillonnage et étalonnage

  •    
  • Mener une étude d'incertitude à l'aide de paramètres et indicateurs tels que variances, écarts types, indices R&R, Cpm et P/T

  •    
  • Approfondir l'étude d'incertitude

  •    
  • Analyser les mesures nominales avec l'indice Kappa et sa mise en œuvre

Programme de la formation

Introduction     Maîtrise des systèmes de mesure : principes, intérêts et intégration à la maîtrise statistique des processus Vocabulaire de la métrologie Introduction au logiciel statistique Inférence statistique et systèmes de mesure     Intervalle de confiance     Tests de comparaison     Tests appariés Techniques d'analyse des systèmes de mesure     Vocabulaire de la métrologie basé sur le VIM     Résolution, biais et linéarité     Étalonnage et incertitude de mesure    …

Introduction

       
  • Maîtrise des systèmes de mesure : principes, intérêts et intégration à la maîtrise statistique des processus



Vocabulaire de la métrologie

Introduction au logiciel statistique

Inférence statistique et systèmes de mesure

       
  • Intervalle de confiance

  •    
  • Tests de comparaison

  •    
  • Tests appariés



Techniques d'analyse des systèmes de mesure

       
  • Vocabulaire de la métrologie basé sur le VIM

  •    
  • Résolution, biais et linéarité

  •    
  • Étalonnage et incertitude de mesure

  •    
  • Échantillonnage

  •    
  • Comparaison d'éléments du système de mesure

  •    
  • Étalonnage et maîtrise statistique de l'étalonnage



Étude d'incertitude (Gage R&R) : bases

       
  • Principe

  •    
  • Calcul des variances de la mesure et des objets mesurés

  •    
  • Écart type total : méthodes de calcul

  •    
  • Guardbands : calcul et mise en œuvre

  •    
  • Indices R&R, Cpm et P/T

  •    
  • Critères d'acceptation

  •    
  • Sources de variation, facteurs croisés et nichés



Étude d'incertitude : approfondissements

       
  • Plans d'expériences optimaux

  •    
  • Nombre de pièces nécessaire à une étude d'incertitude

  •    
  • Cas des mesures destructrices



Cas de mesures nominales

       
  • Principe

  •    
  • Indices Kappa

  •    
  • Mise en œuvre

Validation et sanction

Attestation de formation

Type de formation

Non certifiante

Niveau de sortie

Sans niveau spécifique

Durée, rythme, financement

Durée

En centre

14 h

Financement

Conventionnement
Non
Financeur
  • Autre

    Programme : Autre financement (AIF, entreprise , individuel…)

    Publics : Toute personne ayant à analyser un système de mesure : métrologues, ingénieurs test, qualiticiens …

Conditions d'accès

Public visé

  • Tout public

Informations sur les publics

Toute personne ayant à analyser un système de mesure : métrologues, ingénieurs test, qualiticiens …

Niveau d'entrée

Sans niveau spécifique

Conditions spécifiques et prérequis

Aucun

Lieu de réalisation de l'action

Modalités d'enseignement

Formation entièrement en présentielle

Adresse

41 rue de la Découverte
CS 37623
31676 Labège

Responsable : Data Value

Périodes prévisibles de déroulement des sessions

Début

Fin

Adresse d'inscription
41 rue de la Découverte
31676 Labège
État du recrutement
Ouvert
Modalités
Entrées / Sorties à dates fixes