Analyse des systèmes de mesure MSA
Date de mise à jour :
Identifiant Offre Info : 19_1701309573
Organisme responsable :
Data Value
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Présentation de la formation
Objectifs
Objectifs Connaître les principales méthodes statistiques pour analyser un système de mesure. Compétences visées Appréhender la maîtrise des systèmes de mesure et leur intégration dans la maîtrise statistique des processus Connaître le vocabulaire de la métrologie S'initier à un logiciel de statistique, par défaut R Connaître les principes de l'inférence statistique et des systèmes de mesure : intervalles de confiance, tests de comparaison et tests appariés…
Connaître les principales méthodes statistiques pour analyser un système de mesure.
Compétences visées
- Appréhender la maîtrise des systèmes de mesure et leur intégration dans la maîtrise statistique des processus
- Connaître le vocabulaire de la métrologie
- S'initier à un logiciel de statistique, par défaut R
- Connaître les principes de l'inférence statistique et des systèmes de mesure : intervalles de confiance, tests de comparaison et tests appariés
- Maîtriser les techniques d'analyse des systèmes de mesure : échantillonnage et étalonnage
- Mener une étude d'incertitude à l'aide de paramètres et indicateurs tels que variances, écarts types, indices R&R, Cpm et P/T
- Approfondir l'étude d'incertitude
- Analyser les mesures nominales avec l'indice Kappa et sa mise en œuvre
Programme de la formation
Introduction Maîtrise des systèmes de mesure : principes, intérêts et intégration à la maîtrise statistique des processus Vocabulaire de la métrologie Introduction au logiciel statistique Inférence statistique et systèmes de mesure Intervalle de confiance Tests de comparaison Tests appariés Techniques d'analyse des systèmes de mesure Vocabulaire de la métrologie basé sur le VIM Résolution, biais et linéarité Étalonnage et incertitude de mesure …
- Maîtrise des systèmes de mesure : principes, intérêts et intégration à la maîtrise statistique des processus
Vocabulaire de la métrologie
Introduction au logiciel statistique
Inférence statistique et systèmes de mesure
- Intervalle de confiance
- Tests de comparaison
- Tests appariés
Techniques d'analyse des systèmes de mesure
- Vocabulaire de la métrologie basé sur le VIM
- Résolution, biais et linéarité
- Étalonnage et incertitude de mesure
- Échantillonnage
- Comparaison d'éléments du système de mesure
- Étalonnage et maîtrise statistique de l'étalonnage
Étude d'incertitude (Gage R&R) : bases
- Principe
- Calcul des variances de la mesure et des objets mesurés
- Écart type total : méthodes de calcul
- Guardbands : calcul et mise en œuvre
- Indices R&R, Cpm et P/T
- Critères d'acceptation
- Sources de variation, facteurs croisés et nichés
Étude d'incertitude : approfondissements
- Plans d'expériences optimaux
- Nombre de pièces nécessaire à une étude d'incertitude
- Cas des mesures destructrices
Cas de mesures nominales
- Principe
- Indices Kappa
- Mise en œuvre
Validation et sanction
Type de formation
Non certifiante
Niveau de sortie
Sans niveau spécifique
Durée, rythme, financement
Durée
En centre
28 h
Financement
- Conventionnement
- Oui
- Financeur
-
- Autre
Conditions d'accès
Public visé
- Tout public
Informations sur les publics
Toute personne ayant à analyser un système de mesure : métrologues, ingénieurs test, qualiticiens …
Niveau d'entrée
Sans niveau spécifique
Conditions spécifiques et prérequis
Aucun
Lieu de réalisation de l'action
Modalités d'enseignement
Formation entièrement à distance
Adresse
Périodes prévisibles de déroulement des sessions
Début
Fin
- Adresse d'inscription
-
41 rue de la Découverte
31676 Labège - État du recrutement
- Ouvert
- Modalités
- Entrées / Sorties à dates fixes