Analyse des systèmes de mesure - MSA
Date de mise à jour :
Identifiant Offre Info : 14_AF_0000029270
Organisme responsable :
Data Value
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Présentation de la formation
Objectifs
Connaître toutes les méthodes statistiques pour analyser un système de mesure Compétences visées - Appréhender la maîtrise des systèmes de mesure et son intégration dans la maîtrise statistique des processus - Connaître le vocabulaire de la métrologie - Avoir une introduction à un logiciel de statistique, par défaut le logiciel R - Connaître les principes et techniques de l'inférence statistique et des systèmes de mesure, en calculant des intervalles de confiance et en menant des…
Compétences visées
- Appréhender la maîtrise des systèmes de mesure et son intégration dans la maîtrise statistique des processus
- Connaître le vocabulaire de la métrologie
- Avoir une introduction à un logiciel de statistique, par défaut le logiciel R
- Connaître les principes et techniques de l'inférence statistique et des systèmes de mesure, en calculant des intervalles de confiance et en menant des tests de comparaison et appariés
- Apprivoiser les différentes techniques de l'analyse des systèmes de mesure parmi l'échantillonnage et l'étalonnage
- Savoir mener l'étude d'incertitude par le calcul de plusieurs paramètres et indicateurs tels les variances et écart types, les indices R&R, Cpm et P/T
- Approfondir l'étude d'incertitude
- Examiner le cas de mesures nominales avec les indices Kappa et voir leur mise en œuvre
Programme de la formation
Programme - Introduction La maîtrise des systèmes de mesure : de quoi s'agit-il ? Qu'apporte-t-elle ? Comment s'intègre-t-elle dans la maîtrise statistique des processus ? - Le vocabulaire de la métrologie - Introduction au logiciel statistique - Inférence statistique et systèmes de mesure Intervalle de confiance Tests de comparaison Technique des tests appariés - Les différentes techniques de l'analyse des systèmes de mesure Vocabulaire de la métrologie basé…
- Introduction
- La maîtrise des systèmes de mesure : de quoi s'agit-il ? Qu'apporte-t-elle ? Comment s'intègre-t-elle dans la maîtrise statistique des processus ?
- Le vocabulaire de la métrologie
- Introduction au logiciel statistique
- Inférence statistique et systèmes de mesure
- Intervalle de confiance
- Tests de comparaison
- Technique des tests appariés
- Les différentes techniques de l'analyse des systèmes de mesure
- Vocabulaire de la métrologie basé sur le VIM
- Résolution, biais et linéarité
- Différence entre étalonnage et incertitude de mesure
- Échantillonnage
- Comparaison d'éléments du système de mesure
- Etalonnage et maîtrise statistique de l'étalonnage
- Etude d'incertitude (Gage R&R) : les bases
- Le principe
- Le calcul des variances de la mesure et des objets mesurés
- Écart type total : méthodes de calcul
- Les guardbands: calcul et mise en œuvre
- Les indices R&R, Cpm et P/T
- Les critères d'acceptation
- Sources de variation, facteurs croisés et facteurs nichés
- Etude d'incertitude : approfondissements
- Plans d'expériences optimaux pour une étude d'incertitude
- Le nombre de pièces nécessaire à une étude d'incertitude
- Les cas des mesures destructrices
- Cas de mesures nominales
- Le principe
- Les indices Kappa
- Mise en œuvre
Validation et sanction
Type de formation
Non certifiante
Niveau de sortie
Sans niveau spécifique
Durée, rythme, financement
Durée
En centre
14 h
Financement
- Conventionnement
- Non
Conditions d'accès
Public visé
- Tout public
Informations sur les publics
Toute personne ayant à analyser un système de mesure : métrologues, ingénieurs test, qualiticiens ...
Niveau d'entrée
Sans niveau spécifique
Conditions spécifiques et prérequis
Aucun.
Lieu de réalisation de l'action
Modalités d'enseignement
Formation entièrement en présentielle
Adresse
54 Rue du Faubourg Saint-Antoine75012 Paris 12e
Responsable : A&O Expertise
Périodes prévisibles de déroulement des sessions
Début
Fin
- Adresse d'inscription
-
Data Value
31670 Labège - État du recrutement
- Ouvert
- Modalités
- Entrées / Sorties à dates fixes