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Analyse des systèmes de mesure (MSA)

Date de mise à jour :
Identifiant Offre Info : 03_2100693F
Organisme responsable : Data Value (ouvre dans un nouvel onglet)

Nouvelle recherche

Présentation de la formation

Objectifs

Connaître toutes les méthodes statistiques pour analyser un système de mesure Compétences visées : - Appréhender la maîtrise des systèmes de mesure et son intégration dans la maîtrise statistique des processus - Connaître le vocabulaire de la métrologie - Avoir une introduction à un logiciel de statistique, par défaut le logiciel R - Connaître les principes et techniques de l'inférence statistique et des systèmes de mesure, en calculant des intervalles de confiance et en menant des…

Connaître toutes les méthodes statistiques pour analyser un système de mesure
Compétences visées :
- Appréhender la maîtrise des systèmes de mesure et son intégration dans la maîtrise statistique des processus
- Connaître le vocabulaire de la métrologie
- Avoir une introduction à un logiciel de statistique, par défaut le logiciel R
- Connaître les principes et techniques de l'inférence statistique et des systèmes de mesure, en calculant des intervalles de confiance et en menant des tests de comparaison et appariés
- Apprivoiser les différentes techniques de l'analyse des systèmes de mesure parmi l'échantillonnage et l'étalonnage
- Savoir mener l'étude d'incertitude par le calcul de plusieurs paramètres et indicateurs tels les variances et écart types, les indices R&R, Cpm et P/T
- Approfondir l'étude d'incertitude
- Examiner le cas de mesures nominales avec les indices Kappa et voir leur mise en œuvre

Programme de la formation

- Introduction La maîtrise des systèmes de mesure : de quoi s'agit-il ? Qu'apporte-t-elle ? Comment s'intègre-t-elle dans la maîtrise statistique des processus ? - Le vocabulaire de la métrologie - Introduction au logiciel statistique - Inférence statistique et systèmes de mesure Intervalle de confiance Tests de comparaison Technique des tests appariés - Les différentes techniques de l'analyse des systèmes de mesure Vocabulaire de la métrologie basé sur le VIM…

- Introduction
  • La maîtrise des systèmes de mesure : de quoi s'agit-il ? Qu'apporte-t-elle ? Comment s'intègre-t-elle dans la maîtrise statistique des processus ?
- Le vocabulaire de la métrologie

- Introduction au logiciel statistique

- Inférence statistique et systèmes de mesure
  • Intervalle de confiance
  • Tests de comparaison
  • Technique des tests appariés
- Les différentes techniques de l'analyse des systèmes de mesure
  • Vocabulaire de la métrologie basé sur le VIM
  • Résolution, biais et linéarité
  • Différence entre étalonnage et incertitude de mesure
  • Échantillonnage
  • Comparaison d'éléments du système de mesure
  • Étalonnage et maîtrise statistique de l'étalonnage
- Étude d'incertitude (Gage R&R) : les bases
  • Le principe
  • Le calcul des variances de la mesure et des objets mesurés
  • Écart type total : méthodes de calcul
  • Les guardbands : calcul et mise en œuvre
  • Les indices R&R, Cpm et P/T
  • Les critères d'acceptation
  • Sources de variation, facteurs croisés et facteurs nichés
- Étude d'incertitude : approfondissements
  • Plans d'expériences optimaux pour une étude d'incertitude
  • Le nombre de pièces nécessaire à une étude d'incertitude
  • Les cas des mesures destructrices
- Cas de mesures nominales
  • Le principe
  • Les indices Kappa
  • Mise en œuvre

Validation et sanction

Attestation de formation

Type de formation

Non certifiante

Niveau de sortie

Sans niveau spécifique

Durée, rythme, financement

Modalités pédagogiques

Pédagogie active mêlant exposés, exercices et applications pratiques.
Chaque participant pourra mettre en oeuvre les applications dans le logiciel de son choix parmi Minitab, JMP, StatGraphics ou R.

Durée

En centre

14 h

Financement

Conventionnement
Oui
Financeurs
  • Bénéficiaire de l'action

    Programme : Entreprise, Individuel (AIF, POEI, Région individuel, autofinancement)

    Publics : Toute personne ayant à analyser un système de mesure : métrologues, ingénieurs test, qualiticiens …

  • Entreprise

    Programme : Entreprise, Individuel (AIF, POEI, Région individuel, autofinancement)

    Publics : Toute personne ayant à analyser un système de mesure : métrologues, ingénieurs test, qualiticiens …

Conditions d'accès

Public visé

  • Tout public

Informations sur les publics

Toute personne ayant à analyser un système de mesure : métrologues, ingénieurs test, qualiticiens …

Niveau d'entrée

Sans niveau spécifique

Conditions spécifiques et prérequis

Aucun

Lieu de réalisation de l'action

Modalités d'enseignement

Formation entièrement en présentielle

Adresse

33 Rue de la République
69002 Lyon 2e

Responsable : ASI

Périodes prévisibles de déroulement des sessions

Début

Fin

Adresse d'inscription
41 rue de la Découverte
31676 Labège
État du recrutement
Ouvert
Modalités
Entrées / Sorties à dates fixes