Connaître toutes les méthodes statistiques pour analyser un système de mesure.
- Introduction
- La maîtrise des systèmes de mesure : de quoi s'agit-il ? Qu'apporte-t-elle ? Comment s'intègre-t-elle dans la maîtrise statistique des processus ?
- Le vocabulaire de la métrologie
- Introduction au logiciel statistique
- Inférence statistique et systèmes de mesure
- Intervalle de confiance
- Tests de comparaison
- Technique des tests appariés
- Les différentes techniques de l'analyse des systèmes de mesure
- Vocabulaire de la métrologie basé sur le VIM
- Résolution, biais et linéarité
- Différence entre étalonnage et incertitude de mesure
- Échantillonnage
- Comparaison d'éléments du système de mesure
- Etalonnage et maîtrise statistique de l'étalonnage
- Etude d'incertitude (Gage R&R) : les bases
- Le principe
- Le calcul des variances de la mesure et des objets mesurés
- Écart type total : méthodes de calcul
- Les guardbands: calcul et mise en œuvre
- Les indices R&R, Cpm et P/T
- Les critères d'acceptation
- Sources de variation, facteurs croisés et facteurs nichés
- Etude d'incertitude : approfondissements
- Plans d'expériences optimaux pour une étude d'incertitude
- Le nombre de pièces nécessaire à une étude d'incertitude
- Les cas des mesures destructrices
- Cas de mesures nominales
- Le principe
- Les indices Kappa
- Mise en œuvre
Attestation de formation
Non certificiante
Sans niveau spécifique
